數(shù)字式四探針測試儀

數(shù)字式四探針測試儀 型號： ST2253

概述 

      ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
北京同德創(chuàng)業(yè)  專業(yè)鑄造品質(zhì)

    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。

    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
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    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
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    測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。

      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入

    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

    儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

三、基本技術參數(shù)
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3.1  測量范圍

     電  阻：1×10^-4～2×10⁵ Ω   ，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω

    電阻率：1×10^-4～2×10⁵ Ω-cm，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω-cm

    方  阻：5×10^-4～2×10⁵ Ω/□，分辨率：5×10^-5～1×10² Ω/□

3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)

     直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限

    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.

    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.

    測量方位: 軸向、徑向均可

3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：

    (1)量程： 20.00mV～2000mV

   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

3.4 數(shù)控恒流源

    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A

   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部）

    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)

   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)

3.6. 電源

    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W

3.7.外形尺寸：

    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）

   凈   重：≤2.5kg