微波光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀 微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀

微波光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀 微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀 型號(hào)： WJ-100A 
 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 
      WJ-100A型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707及標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010設(shè)計(jì)制造。并且我單位是微波反射法標(biāo)準(zhǔn)起草單位之一。本設(shè)備采用微波反射無接觸光電導(dǎo)衰退測(cè)量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測(cè)量，提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測(cè)量。壽命測(cè)量可靈敏地反映半導(dǎo)體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導(dǎo)體質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。 
      壽命測(cè)量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。 
      讀數(shù)方式：數(shù)字直讀。